IC引线冲压框架缺陷在线检测设备

发布者:数学与计算机学院发布时间:2024-09-12浏览次数:35

  该设备是半导体封装领域中用于高速、精准检测引线框架质量的关键装备。它运用先进图像处理技术与AI算法,实时监测并分类生产中的缺陷,如错冲、漏冲、划伤、引脚歪斜、毛刺等,确保产品达标。设备通过高分辨率成像与精密传感实现非接触式在线检测,提升效率与准确性。AI算法的学习与优化能力保证了长期稳定性能。用户友好的界面与远程监控系统便于操作与维护,自动生成检测报告辅助质量分析。该设备目前已投入到铜陵丰山三佳微电子有限公司试用。



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